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单向可控硅的测量、测试方法
 
文章编号:
100827154354
文章分类: 电路 电子元件
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关 键 词: 可控硅,SCR
文章来源:
互联网
摘 要:
本文介绍用万用表如何测试判断单可控硅的引脚极性、好坏,以及测量其触发导通能力的三种方法...

注:本文以指针式万用表为例,当使用数字式万用表时请注意红黑表笔的极性是相反的

1.如何测试判断单向可控硅的引脚极性

  如图1(a)所示,可控硅的控制极与阴极之间有—个PN结,类似于一只二极管,具有单向导电特性,而阳极与控制极和阴极之间有多个PN结,因这些PN结是反串在一起的,正反向电阻均是很大的。根据这些特点,就可利用万用表很方便地判别出各电报来。将万用表置于R×1k(或R×100)档,任意测试两个电极间的正反向电阻,如果测得其中两个电极的电阻较小(正向,几到十几千欧),而交换表笔后测得的电阻很大(反向,几十到几百干欧),那么,以阻值较小的为准,黑表笔所接的电极就是控制极,而红表笔所接电极就是阴极,剩下的电极便是阳极了。测试中,若测得的正反向电阻均很大时,应及时调换电极再测试,直至找到正反向电阻—大一小的两个电极为止。

图1 可控硅等效电路和电路符号

2、测试单向可控硅的好坏

极间电阻的测试

  如果测得阳极A与控制极G和阴极K之间的正反向电阻均很大,而控制极与阳极间具有单向特性时,则说明可控硅是好的;如果测试阳极与控制极和阴极间的正反向电阻较小甚至为零,而控制极与阴极间的正反向电阻很接近甚至为零时,说明可控硅性能变差或内部击穿短路;如果测得各电极间的电阻均为无穷大,就说明可控硅内部开路损坏。

  测量控制极与阴极之间的正反向电阻时请注意:—般正反向电阻都相差很大,但由于制造工艺上的原因,使得控制极与阴极间正反向电阻有可能差别较小,但只要反向电阻明显地比正向电阻大就证明可控硅是好的。普通可控硅的测试参考数据见表1。

表1 单向可控硅参试参考数据

触发导通能力的测试

  判断方祛之二:万用表置R×1档,黑表笔接阳极A,红表笔接阴极K.给阳极加上正向电压,此时观察表头指示,阻值应很大。然后图2所系,用—根短路线把阳极和控制极连起来,这样也给控制极加上正向触发电压,此时观察万用表指示,如果发现阻值明显变小,就说明可控硅有可能被触发导通,再拆去短路线,如果指针仍指在原来较小的位置,就说明可控硅确已触发导通,并且说明可控硅性能良好,可以使用。反之,如果短路线拆去前后,指针均不动,说明可控硅有可能损坏。在测试中,我们还会发现—种情况,即当给控制极加触发电压时,可控硅便导通,而当搞撤去触发电压,可控硅就不导通了,这可能是导通电流太小(小于继持电流)或导通管压降太大所致,这属正常现象,并不影响对可控硅性能的判断。

图3 单向可控硅触发导通能力测试示意图(方法一)

  判断方法之二:有些可控硅(如大功率)需要的触发电流和维持导通电流较大,若采用上述方法调试而可控硅不能触发导通时,可采用如图4所示电路进行测量,即在万用表的红表笔上串一只1.5V干电池,使干电池与表内电池正向串联(顺串)在一起。加一节干电池后,对于一只性能良好的可控硅来说,—般都能触发导通,否则说明可控硅是坏的。如果身边有两只万用表的话,可将两只万用表串联后进行测量。串的这只万用表就相当于加了一节干电池。

图4 单向可控硅触发导通能力测试示意图(方法二)

  判断方法之三:电路如图5所示,万用表拔在直流100mA档,用两节1.5V干电池串联提供电源,电阻起限流作用,防止导通时电流过大打表。连接好电路后,开关K'处于断开位置,此时表针应没有偏转,指示为零,表明可控硅没有导通,如果有指示,表明可控硅已击穿或性能变差。然后合上K',如果表针有明显的偏转,说明可控硅是好的,如果无偏转,可控硅可能是坏的,可再加—节干电池再试。可控硅导通后再断开开关K',如果指针指示在原来位置不动,表明可控硅仍维持导通,性能良好;如果指针回到零位,说明可控硅恢复阻断,有可能是坏的,但也有可能是维持导通电流大小所致。

图5 单向可控硅触发导通能力测试示意图(方法三)

 
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